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          • 德國 PVA TePla  于 2007 年 10 月并購 德國 KSI !  請謹慎識别近年在市場上再次以 KSI簡稱出現的公司
          • 德國 PVA TePla  于 2007 年 10 月并購 德國 KSI !  請謹慎識别近年在市場上再次以 KSI簡稱出現的公司
          超聲波掃描顯微鏡
          掃描顯微鏡
          超聲波檢測設備
          德國PVA顯微鏡資訊
          Products / Products
          • 超聲波掃描顯微鏡
            1. 前後雙工位系統,減少機器停頓時間,顯著提高工作效率2. 各種樣品吸盤、夾具定制3. 專業圖像處理與計算軟件(空洞率計算和顆粒度分析,不僅适用于超聲波掃描顯微鏡,同時可用于電鏡、光學顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、    X-Ray 等衆多顯微檢測設備)4、圓柱體、管材樣品檢測旋轉裝置5、使用要求; 220V,50Hz ,去離子水
            德國 PVA Hibert Filter- 外置濾波器(軟件開關控制,用于110MHz 以上延遲性探頭使用)2.  各種樣品吸盤、夾具定制、半自動化設備升級3. 專業圖像處理與計算軟件(空洞率計算和顆粒度分析,不僅适用于超聲波掃描顯微鏡,同時可用于電鏡、光學顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、   X-Ray 等衆多顯微檢測設備) 圖為左右排列雙探頭...
            部分可選項:  1.  大水槽,深水槽定制;各種樣品吸盤、夾具定制2. 專業圖像處理與計算軟件(空洞率計算和顆粒度分析,不僅适用于超聲波掃描顯微鏡,同時可用于電鏡、光學顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、   X-Ray 等衆多顯微檢測設備)3.  德國 PVA Hibert Filter- 外置濾波器(軟件開關控制,用于110MHz 以上...
            部分可選項:  1.  德國 PVA Hibert Filter- 外置濾波器(軟件開關控制,用于110MHz 以上延遲性探頭使用)2.前後雙工位系統,減少機器停頓時間,顯著提高工作效率3.  各種樣品吸盤、夾具定制、半自動化設備升級4.在不改變掃描機構主體,升級為雙探頭(左右排列或前後排列)、四探頭掃描系統,成倍提高掃描效率4. 專業圖像處理與計算軟件(空...
            部分可選項:  1.  德國 PVA Hibert Filter- 外置濾波器(軟件開關控制,用于110MHz 以上延遲性探頭使用)2.前後雙工位系統,減少機器停頓時間,顯著提高工作效率3.  各種樣品吸盤、夾具定制、半自動化設備升級4.在不改變掃描機構主體,升級為雙探頭(左右排列或前後排列)、四探頭掃描系統,成倍提高掃描效率4. 專業圖像處理與計算軟件(空...
            部分可選項:  1.  德國 PVA Hibert Filter- 外置濾波器(軟件開關控制,用于110MHz 以上延遲性探頭使用)2.  各種樣品吸盤、夾具定制、半自動化設備升級3 專業圖像處理與計算軟件(空洞率計算和顆粒度分析,不僅适用于超聲波掃描顯微鏡,同時可用于電鏡、光學顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、   X-Ray 等衆多顯...
          • 電鏡
            簡便易用的低真空掃描電鏡及時、準确地得到答案研究各種各樣的材料,并進行結構和成份表征,是目前對掃描電鏡的主流應用要求。簡便易用的Inspect™ S50是為這些研究量身定做的,具有較強的靈活性和通用性。Inspect S50能提供各種數據:包括表面像、成份像并結合元素分析結果;這些數據可用于确定材料的性質和成份構成。當今人們利用掃描電鏡研究的材料早已超出單純的金屬和經導電噴塗處理過的樣品,Insp...
          • 能譜儀
          • 其他

          德國  PVA TePla - 科視達摆脱mg游戏

          超聲波掃描顯微鏡一上海聯合實驗室澳门真人线上亚博

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          2013年,科視達®  攜手德國 PVA TePla 在上海成立了亞洲最大的 德國 PVA TePla 超聲波掃描顯微鏡 上海聯合實驗室,陳列有德國 PVA TePla 三種不同規格型号的超聲波掃描顯微鏡主流機型,為廣大用戶提供現場看機服務。

          PVA TePla Analytical Systems GmbH 是德國知名 PVA TePla AG 集團成員. PVA TePla 憑借集團公司雄厚的資金實力和強大的研發團隊,數以千計的專利,持續不斷地發展超聲波掃描顯微鏡技術, 為客戶提供突破傳統超聲掃描瓶頸的創新解決方案。

          超聲波掃描顯微鏡被更為廣泛地應用于材料科學,半導體行業,生物學,太陽能以及晶圓鍵合缺陷檢測等領域,給傳統的精細結構觀察帶來了全新的方法。

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          過去的成功經驗告訴我們:優質的服務是我們生存的關鍵,在引進先進的科學儀器及檢測設備的同時,我們更要提供給客戶最優質的服務。

          占地面積30000平方米,擁有各種設備近百台,是專業從事電加工數控精密機床的生産廠家,擁有産品開發設計、生産制造、推廣的能力。

          高精密度,您的不二之選

          曆年展會回顧 / Case
          Explain: 德國 PVA & 科視達攜手參展 2018 上海 Semicon 展會德國原廠技術專家莅臨指導參展機型 SAM 300 B參展機型 SAM 302 HD2德國技術專家 Mr.Zyzi Auto Wafer 300 全自動晶圓鍵合超聲掃描檢測系統SAM 302 HD2 HiSA 翹曲樣品告訴實時自動對焦 及 DTS 高分辨動态透射掃描
          Explain: 近年來,德國PVA TePla憑借在超聲波掃描顯微鏡(SAM)領域内不斷創新的、卓越的領先技術、優異穩定的産品質量、優質的售後服務,被廣大的中國用戶群所認可。德國PVA TePla近年更不斷推出适合半導體領域的最尖端的超聲檢測設備,并在中國同步展出和銷售。為此,我們科視達®和德國 PVA TePla廠商鄭重邀請您參加将于2018年3月14日至3月16日 “2018 上海Semicon 展會”。時間:  2018年3月14日星期三——3月16日星期五          地點:  上海浦東新國際展覽中心   上海浦東龍陽路 2345号 展位号: N2 - N2627  PVA TePla & Questar 科視達展出機型:1.     SAM 302 HD2 – 超高速實時自動聚焦 HiSA & 高分辨率動态透射掃描 DTS  2.   SAM 300 B – 展示最新軟件 Winsam 8 & Hot Matching Receiver透射掃描
          Explain: 德國 PVA & 科視達攜手參展 2017 上海 Semicon 展會技術專家莅臨指導參展機型 SAM 300
          Explain: 近年來,德國 PVA 憑借在超聲波掃描顯微鏡領域内卓越的領先技術、穩定的産品質量、優質的售後服務,被廣大的中國用戶群所認可和推薦。近年來,德國 PVA 不斷推出擁有獨特功能的、新型尖端超聲波掃描檢測設備,并在中國市場同步推出。德國 Sentronics 的晶圓膜厚/平整度/弓形/翹曲/粗糙度測量設備 (原 ISIS)以其高度集成的功能于一身,深受廣大用戶喜愛,避免了重複購買設備的弊端。2016推出的 SemDex 600 最大檢測範圍  600 * 600mm.展會:  2017 上海Semicon  時間:  2017年3月14日星期二 -  3月16日星期四       地點: 上海浦東新國際展覽中心  上海浦東龍陽路2345号展位号:W3 館- 3619展出機型:1. 德國 PVA - SAM 300 Basic - 新款機型,配置最新 Winsam 8 操作軟件2. 德國 PVA - SAM 300 UltraTec - 前後雙探頭、超高速 (最快掃描速度   2000mm/ 秒)、同時配置 Winsam 5.8 + Winsam 8 操作軟件3. 德國 Sentronics 晶圓膜厚測試儀 SemDex 151- 桌上型  特此邀請, 真誠期待您的光臨!
          FAQ / FAQ More
          number of clicks: 410
          Date updated: 2014 - 11 - 15

          1. 樣品測試,提供測試報告并當面技術交流;

          2. 針對客戶需求,推薦适合機型及探頭配置。


          number of clicks: 443
          Date updated: 2014 - 11 - 15

          1. 專人負責售後,向客戶提供“一站式”服務;

          2. 上海實驗室提供循壞技術培訓;

          3. 遠程參數設置指導服務;

          4. 提供夾具設計、制作或指導。


          number of clicks: 480
          Date updated: 2014 - 11 - 15

          1. 提供小批量樣品外協測試服務;

          2.安裝場地勘察


          number of clicks: 352
          Date updated: 2014 - 11 - 08

          1、 疑難樣品免費測試指導

          2、 探頭短期外借服務

          3、 治具、防水密封夾具定制服務


          公司新聞 / News
          2018 參展上海Semicon 盛況分享
          德國 PVA & 科視達攜手參展 2018 上海 Semicon 展會德國原廠技術專家莅臨指導參展機型 SAM 300 B參展機型 SAM 302 HD2德國技術專家 Mr.Zyzi Auto Wafer 300 全自動晶圓鍵合超聲掃描檢測系統SAM 302 HD2 HiSA 翹曲樣品告訴實時自動對焦 及 DTS 高分辨動态透射掃描
          2018 - 04 - 18
          德國 PVA & 科視達攜手參展 2018 上海 Semicon 展會
          近年來,德國PVA TePla憑借在超聲波掃描顯微鏡(SAM)領域内不斷創新的、卓越的領先技術、優異穩定的産品質量、優質的售後服務,被廣大的中國用戶群所認可。德國PVA TePla近年更不斷推出适合半導體領域的最尖端的超聲檢測設備,并在中國同步展出和銷售。為此,我們科視達®和德國 PVA TePla廠商鄭重邀請您參加将于2018年3月14日至3月16日 “2018 上海Semicon 展會”。時間:  2018年3月14日星期三——3月16日星期五          地點:  上海浦東新國際展覽中心   上海浦東龍陽路 2345号 展位号: N2 - N2627  PVA TePla & Questar 科視達展出機型:1.     SAM 302 HD2 – 超高速實時自動聚焦 HiSA & 高分辨率動态透射掃描 DTS  2.   SAM 300 B – 展示最新軟件 Winsam 8 & Hot Matching Receiver透射掃描
          2018 - 04 - 18
          2017 參展 上海 Semicon 盛況分享
          德國 PVA & 科視達攜手參展 2017 上海 Semicon 展會技術專家莅臨指導參展機型 SAM 300
          2017 - 03 - 22
          2018 參展上海Semicon 盛況分享
          德國 PVA & 科視達攜手參展 2018 上海 Semicon 展會德國原廠技術專家莅臨指導參展機型 SAM 300 B參展機型 SAM 302 HD2德國技術專家 Mr.Zyzi Auto Wafer 300 全自動晶圓鍵合超聲掃描檢測系統SAM 302 HD2 HiSA 翹曲樣品告訴實時自動對焦 及 DTS 高分辨動态透射掃描
          2018 - 04 - 18
          德國 PVA & 科視達攜手參展 2018 上海 Semicon 展會
          近年來,德國PVA TePla憑借在超聲波掃描顯微鏡(SAM)領域内不斷創新的、卓越的領先技術、優異穩定的産品質量、優質的售後服務,被廣大的中國用戶群所認可。德國PVA TePla近年更不斷推出适合半導體領域的最尖端的超聲檢測設備,并在中國同步展出和銷售。為此,我們科視達®和德國 PVA TePla廠商鄭重邀請您參加将于2018年3月14日至3月16日 “2018 上海Semicon 展會”。時間:  2018年3月14日星期三——3月16日星期五          地點:  上海浦東新國際展覽中心   上海浦東龍陽路 2345号 展位号: N2 - N2627  PVA TePla & Questar 科視達展出機型:1.     SAM 302 HD2 – 超高速實時自動聚焦 HiSA & 高分辨率動态透射掃描 DTS  2.   SAM 300 B – 展示最新軟件 Winsam 8 & Hot Matching Receiver透射掃描
          2018 - 04 - 18
          2017 參展 上海 Semicon 盛況分享
          德國 PVA & 科視達攜手參展 2017 上海 Semicon 展會技術專家莅臨指導參展機型 SAM 300
          2017 - 03 - 22
          行業新聞 / News
          哪些原因會影響超聲波檢測儀的檢測結果?
          由于超聲波檢測儀具有十分精确的檢測效果,所以現在很多生産企業都會從采購優質超聲波檢測儀來對産品做檢測,但是,有時候工作人員會發現檢測的結果并沒有達到預期的标準,那麼,是什麼原因導緻的呢?下面就由超聲波檢測儀廠家來介紹哪些原因會影響檢測的結果。1、頻率選擇的不正确超聲波檢測儀可以發出的超聲波頻率是有一個範圍的,如果選擇的頻率不正确那就會影響産品檢測的效果。因為頻率的高低會導緻産品接受到的超聲波信息量過多或不足,再反饋的時候,超聲波檢測儀接收的反饋聲波信息就會有一定程度的失真。2、功率選擇的不合适超聲波檢測儀的功率對檢測效果也有着非常重要的影響,因為功率會影響超聲波檢測儀中傳感器的激勵脈沖以及接收狀況,如果使用了不合理的功率就會導緻對産品的檢測達不到預期目标,所以,在檢測之前應該先根據實際的檢測修來調整合适的超聲波功率以便達到好的檢測效果。3、産品的表面過于粗糙在使用超聲波檢測儀做檢測的時候,産品表面越光滑就越容易和檢測儀的探頭耦合,反之,耦合效果就會不良,反射回波較低,甚至還會出現接收不到回波信息的情況,所以,要想達到準确的檢測結果,産品表面就應該避免太粗糙,如果有鏽蝕情況可以先将其處理光滑在檢測。超聲波檢測儀廠家在上文中為大家介紹了幾個容易導緻檢測結果不佳的原因,通過簡單的介紹大家就可以了解到,雖然超聲波檢測儀是一種非常好用的、無損性的檢測工具,但是,如果不正确的去使用也會導緻檢測結果出現失誤,所以一定要避免以上這幾個因素。
          2018 - 12 - 15
          使用超聲波掃描顯微鏡的注意事項
          超聲波掃描顯微鏡是在顯微鏡的基礎上進行技術的創新和産品的升級,其融入了超聲波技術對掃描顯微鏡的清晰度和探索度都有幫助,超聲波技術也屬于科技領域較為高級的科技,那麼購買者在使用超聲波掃描顯微鏡時需要了解的注意事項有哪些?一、注意在使用超聲波顯微鏡時不要攜帶金屬制品由于超聲波掃描顯微鏡是使用超聲波技術進行物品的觀察記錄,而超聲波與金屬制品會産生物理反應導緻一些不安全的事件發生。因此各位使用者在對掃描顯微鏡進行操作時可以先檢查自身,注意細小的零件設備例如手表項鍊等容易被忽略的生活用品。二、注意在使用時應該穿戴好專業的設備衣物關于超聲波掃描顯微鏡哪家比較專業這個話題的讨論可以通過許多細節得出答案,專業生産超聲波掃描顯微鏡的品牌肯定明白應該如何使用顯微鏡,因此購買者隻需查看該品牌是否在使用時穿戴好專業的設備服裝,并且是否擁有專業的團隊提供協助就能夠明白該品牌的專業度。三、注意使用時的觀察樣品應該擺放在專門位置購買者在使用超聲波掃描顯微鏡對樣品玻片進行觀察掃描時,應該注意樣品的擺放位置是否完好的待在其應該待的位置,因為顯微鏡的鏡頭無法以圓為中心的移動,因此觀察的範圍就比較的固定和死闆,因此假若觀察樣品沒有擺放在專門位置可能就無法看到内在結構。超聲波掃描顯微鏡有哪些牌子是各位購買者的日常讨論中亘古不變的話題,使用超聲波掃描顯微鏡時不僅需要注意在使用超聲波顯微鏡時不要攜帶金屬制品,而且購買者還需注意在使用時應該穿戴好專業的設備衣物,同時還需注意使用時的觀察樣品應該擺放在專門位置。
          2018 - 12 - 06
          選擇超聲波掃描顯微鏡的好處有哪些
          各位購買者對于超聲波掃描顯微鏡哪家比較專業這個問題相當的苦惱和好奇,而超聲波掃描顯微鏡這一在科技領域獲得重大機械突破的創作,也受到了許多微觀愛好者對于更高清晰度分辨度的追捧和喜愛,那麼對于不了解顯微鏡的購買者來說選擇超聲波掃描顯微鏡的好處有哪些?一、能夠更加清晰的了解觀察樣品超聲波掃描顯微鏡相比于光學顯微鏡擁有着更高的分辨率和清晰度,在觀察同一物品時使用超聲波顯微鏡能夠比光學顯微鏡的觀察度更高,也能夠保證所觀察物品的細節和微小分子能夠被購買者捕捉,相比光學顯微鏡在清晰度方面的比拼超聲波顯微鏡顯然更勝一籌。二、能夠觀測到普通顯微鏡無法突破的微小物質超聲波掃描顯微鏡擁有着更高的掃描頻率和分辨率,由于光學顯微鏡的觀察樣品是有着尺寸範圍的,小于納米範圍及其以下的觀察對象光學顯微鏡是無法捕捉和放大的,而使用超聲波顯微鏡就能夠較為輕松的解決觀察對象尺寸過于微小的難題。三、觀察樣品的制作過程也更加方便快捷超聲波掃描顯微鏡在樣品的制作方面并不像普通顯微鏡那樣麻煩繁瑣準備工作冗長,隻需進行簡單的裝片和安裝在合适的觀察位置就完成了,而光學顯微鏡等普通的顯微鏡在進行觀察前需将樣品切成薄片,它們才能夠進行較好的觀察和處理該樣品的細節。超聲波掃描顯微鏡哪家生産的好需要消費者用時間和精力去尋求真實的答案,購買者選擇超聲波掃描顯微鏡不僅能夠更加清晰的了解觀察樣品,而且還能夠觀測到普通顯微鏡無法突破的微小物質,同時可以保證觀察樣品的制作過程更加的方便快捷。
          2018 - 12 - 06
          利用C-SAM進行分析有哪些好處
          c-sam超聲波檢測是指利用超聲波顯微鏡進行專業檢測,許多人将超聲波檢測與其他同類檢測相混淆,此種檢測是根據不同密度材料的反射速率進行深度分析,所以它的分析精度高且錯誤率低,而C-SAM的傳輸信号即為超聲波,衆所周知超聲波的抑制界面較少而且穿透率較高,那麼C-SAM檢測具有哪些優勢呢?一、限制性較小小編注意到目前應用C-SAM檢測的領域涵蓋了塑料封裝IC以及各種晶片和pcb行業、LED生産行業,可知對C-SAM檢測的限制較小,尤其檢測裂紋缺陷以及空洞分層或者金屬基闆的各種問題時采用C-SAM檢測要明顯優于同類檢測,應用範圍廣且對行業限制小是C-SAM檢測的重要優勢。二、測試簡單傳統同類設備測試中效率有待提高,而使用C-SAM檢測的測試步驟則大大簡化,确認樣品類型後僅需選擇相應的頻率探頭,再将其放置測量裝置當中讓C-SAM檢測工具正常開機并順利進入掃描模式,即可對圖像進行深度掃描,自動化缺陷分析讓測試更加簡單。三、分析更透徹完整清晰有許多使用C-SAM檢測設備的場所通過無損檢測或切片分析以及各種可靠性測試,讓相關人員更加透徹和完整的判斷測試的準确性,這均得益于超聲波掃描顯微鏡C-SAM檢測設備的分析更加透徹,能夠将影像進行固定後讓各種檢測均可完整的呈現,技術人員根據圖像判斷整個分析是否可靠。所以通過C-SAM檢測設備來驗證材料缺陷并且成像是目前較先進的技術,之所以通過C-SAM檢測便是利用其不同材料不同密度的分析特性讓分析結果更加準确。綜上可知C-SAM檢測缺陷、确定确切方位和尺寸多種功能讓各種無損檢測效率更高精度更高。
          2018 - 11 - 28
          哪些原因會影響超聲波檢測儀的檢測結果?
          由于超聲波檢測儀具有十分精确的檢測效果,所以現在很多生産企業都會從采購優質超聲波檢測儀來對産品做檢測,但是,有時候工作人員會發現檢測的結果并沒有達到預期的标準,那麼,是什麼原因導緻的呢?下面就由超聲波檢測儀廠家來介紹哪些原因會影響檢測的結果。1、頻率選擇的不正确超聲波檢測儀可以發出的超聲波頻率是有一個範圍的,如果選擇的頻率不正确那就會影響産品檢測的效果。因為頻率的高低會導緻産品接受到的超聲波信息量過多或不足,再反饋的時候,超聲波檢測儀接收的反饋聲波信息就會有一定程度的失真。2、功率選擇的不合适超聲波檢測儀的功率對檢測效果也有着非常重要的影響,因為功率會影響超聲波檢測儀中傳感器的激勵脈沖以及接收狀況,如果使用了不合理的功率就會導緻對産品的檢測達不到預期目标,所以,在檢測之前應該先根據實際的檢測修來調整合适的超聲波功率以便達到好的檢測效果。3、産品的表面過于粗糙在使用超聲波檢測儀做檢測的時候,産品表面越光滑就越容易和檢測儀的探頭耦合,反之,耦合效果就會不良,反射回波較低,甚至還會出現接收不到回波信息的情況,所以,要想達到準确的檢測結果,産品表面就應該避免太粗糙,如果有鏽蝕情況可以先将其處理光滑在檢測。超聲波檢測儀廠家在上文中為大家介紹了幾個容易導緻檢測結果不佳的原因,通過簡單的介紹大家就可以了解到,雖然超聲波檢測儀是一種非常好用的、無損性的檢測工具,但是,如果不正确的去使用也會導緻檢測結果出現失誤,所以一定要避免以上這幾個因素。
          2018 - 12 - 15
          使用超聲波掃描顯微鏡的注意事項
          超聲波掃描顯微鏡是在顯微鏡的基礎上進行技術的創新和産品的升級,其融入了超聲波技術對掃描顯微鏡的清晰度和探索度都有幫助,超聲波技術也屬于科技領域較為高級的科技,那麼購買者在使用超聲波掃描顯微鏡時需要了解的注意事項有哪些?一、注意在使用超聲波顯微鏡時不要攜帶金屬制品由于超聲波掃描顯微鏡是使用超聲波技術進行物品的觀察記錄,而超聲波與金屬制品會産生物理反應導緻一些不安全的事件發生。因此各位使用者在對掃描顯微鏡進行操作時可以先檢查自身,注意細小的零件設備例如手表項鍊等容易被忽略的生活用品。二、注意在使用時應該穿戴好專業的設備衣物關于超聲波掃描顯微鏡哪家比較專業這個話題的讨論可以通過許多細節得出答案,專業生産超聲波掃描顯微鏡的品牌肯定明白應該如何使用顯微鏡,因此購買者隻需查看該品牌是否在使用時穿戴好專業的設備服裝,并且是否擁有專業的團隊提供協助就能夠明白該品牌的專業度。三、注意使用時的觀察樣品應該擺放在專門位置購買者在使用超聲波掃描顯微鏡對樣品玻片進行觀察掃描時,應該注意樣品的擺放位置是否完好的待在其應該待的位置,因為顯微鏡的鏡頭無法以圓為中心的移動,因此觀察的範圍就比較的固定和死闆,因此假若觀察樣品沒有擺放在專門位置可能就無法看到内在結構。超聲波掃描顯微鏡有哪些牌子是各位購買者的日常讨論中亘古不變的話題,使用超聲波掃描顯微鏡時不僅需要注意在使用超聲波顯微鏡時不要攜帶金屬制品,而且購買者還需注意在使用時應該穿戴好專業的設備衣物,同時還需注意使用時的觀察樣品應該擺放在專門位置。
          2018 - 12 - 06
          選擇超聲波掃描顯微鏡的好處有哪些
          各位購買者對于超聲波掃描顯微鏡哪家比較專業這個問題相當的苦惱和好奇,而超聲波掃描顯微鏡這一在科技領域獲得重大機械突破的創作,也受到了許多微觀愛好者對于更高清晰度分辨度的追捧和喜愛,那麼對于不了解顯微鏡的購買者來說選擇超聲波掃描顯微鏡的好處有哪些?一、能夠更加清晰的了解觀察樣品超聲波掃描顯微鏡相比于光學顯微鏡擁有着更高的分辨率和清晰度,在觀察同一物品時使用超聲波顯微鏡能夠比光學顯微鏡的觀察度更高,也能夠保證所觀察物品的細節和微小分子能夠被購買者捕捉,相比光學顯微鏡在清晰度方面的比拼超聲波顯微鏡顯然更勝一籌。二、能夠觀測到普通顯微鏡無法突破的微小物質超聲波掃描顯微鏡擁有着更高的掃描頻率和分辨率,由于光學顯微鏡的觀察樣品是有着尺寸範圍的,小于納米範圍及其以下的觀察對象光學顯微鏡是無法捕捉和放大的,而使用超聲波顯微鏡就能夠較為輕松的解決觀察對象尺寸過于微小的難題。三、觀察樣品的制作過程也更加方便快捷超聲波掃描顯微鏡在樣品的制作方面并不像普通顯微鏡那樣麻煩繁瑣準備工作冗長,隻需進行簡單的裝片和安裝在合适的觀察位置就完成了,而光學顯微鏡等普通的顯微鏡在進行觀察前需将樣品切成薄片,它們才能夠進行較好的觀察和處理該樣品的細節。超聲波掃描顯微鏡哪家生産的好需要消費者用時間和精力去尋求真實的答案,購買者選擇超聲波掃描顯微鏡不僅能夠更加清晰的了解觀察樣品,而且還能夠觀測到普通顯微鏡無法突破的微小物質,同時可以保證觀察樣品的制作過程更加的方便快捷。
          2018 - 12 - 06
          利用C-SAM進行分析有哪些好處
          c-sam超聲波檢測是指利用超聲波顯微鏡進行專業檢測,許多人将超聲波檢測與其他同類檢測相混淆,此種檢測是根據不同密度材料的反射速率進行深度分析,所以它的分析精度高且錯誤率低,而C-SAM的傳輸信号即為超聲波,衆所周知超聲波的抑制界面較少而且穿透率較高,那麼C-SAM檢測具有哪些優勢呢?一、限制性較小小編注意到目前應用C-SAM檢測的領域涵蓋了塑料封裝IC以及各種晶片和pcb行業、LED生産行業,可知對C-SAM檢測的限制較小,尤其檢測裂紋缺陷以及空洞分層或者金屬基闆的各種問題時采用C-SAM檢測要明顯優于同類檢測,應用範圍廣且對行業限制小是C-SAM檢測的重要優勢。二、測試簡單傳統同類設備測試中效率有待提高,而使用C-SAM檢測的測試步驟則大大簡化,确認樣品類型後僅需選擇相應的頻率探頭,再将其放置測量裝置當中讓C-SAM檢測工具正常開機并順利進入掃描模式,即可對圖像進行深度掃描,自動化缺陷分析讓測試更加簡單。三、分析更透徹完整清晰有許多使用C-SAM檢測設備的場所通過無損檢測或切片分析以及各種可靠性測試,讓相關人員更加透徹和完整的判斷測試的準确性,這均得益于超聲波掃描顯微鏡C-SAM檢測設備的分析更加透徹,能夠将影像進行固定後讓各種檢測均可完整的呈現,技術人員根據圖像判斷整個分析是否可靠。所以通過C-SAM檢測設備來驗證材料缺陷并且成像是目前較先進的技術,之所以通過C-SAM檢測便是利用其不同材料不同密度的分析特性讓分析結果更加準确。綜上可知C-SAM檢測缺陷、确定确切方位和尺寸多種功能讓各種無損檢測效率更高精度更高。
          2018 - 11 - 28
          媒體報道 / News
          科視達攜手德國PVA TePla & 德國Sentronics Metrology 參展2016 上海SEMICON
          科視達® 攜手德國 PVA TePla & 德國Sentronics Metrology 參展2016 上海SEMICON科視達®将攜手德國PVA TePla & 德國Sentronics Metrology參加 2016 年3 月15-17 日在“上海浦東新國際展覽中心”開展的SEMICON CHINA 2016 展會(展位号: N3 館- 3501展位 )。此次,将展出德國PVA TePla 公司生産制造的具有世界領先HiSA技術的SAM 302 HD2 - 超高清、前後雙探頭超聲波掃描顯微鏡和超高速機型:SAM 300 UltraTec, 最快掃描速度2000mm/s.德國PVA TePla 和科視達技術專家将在展會現場進行操作演示和樣品測試。同時将首次展出德國Sentronics Metrology(原ISIS )的晶圓多層膜厚/平整度/弓形/翹曲/表面粗糙度測量設備 SemDex 301-21,歡迎攜帶晶圓樣品現場預約測試,以便更好了解設備的多功能與卓越性能。誠摯歡迎各位莅臨展會現場觀摩和技術交流!相信一定會令您不虛此行!
          2013 - 11 - 29
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